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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第527位 68件
(2010年:第387位 112件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第223位 160件
(2010年:第178位 185件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-39006 | 測定装置 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-30626 | 眼底解析装置、眼底解析プログラム及び眼底解析方法 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-24930 | 眼科観察装置 | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-28009 | 画像取得用レンズ | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-22062 | 位置測定方法及び位置測定装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-14303 | 荷電粒子ビーム装置のオートフォーカス画像判定方法、荷電粒子ビーム装置のオートフォーカス画像判定装置、荷電粒子ビーム装置、コンピュータプログラム及び記録媒体 | 2011年 1月20日 | |
特開 2011-2273 | 回転レーザ出射装置 | 2011年 1月 6日 | |
特開 2011-2305 | 回路パターンの欠陥検出装置、回路パターンの欠陥検出方法およびプログラム | 2011年 1月 6日 |
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2011-39006 2011-30626 2011-24930 2011-28009 2011-22062 2011-14303 2011-2273 2011-2305
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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