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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第41位 890件
(2010年:第95位 498件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第45位 658件
(2010年:第55位 464件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-151377 | 半導体装置 | 2011年 8月 4日 | |
特開 2011-143404 | パターン形成方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-146692 | 半導体装置、測定装置、比誘電率の測定方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145290 | 電流測定方法、半導体装置の検査方法、半導体装置、および特性評価用素子 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-146698 | 半導体装置の作製方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-146697 | 半導体装置の作製方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145716 | 表示装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145686 | 発光装置及び電子機器 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145669 | 光センサを有する表示装置及びその駆動方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145667 | 液晶表示装置の駆動方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145666 | 液晶表示装置の駆動方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145690 | 表示装置及び表示装置の駆動方法 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-147121 | 不揮発性のラッチ回路及び論理回路及びそれを用いた半導体装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-146749 | 発光素子 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-146694 | 半導体装置、及び半導体装置の作製方法 | 2011年 7月28日 |
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2011-151377 2011-143404 2011-146692 2011-145290 2011-146698 2011-146697 2011-145716 2011-145686 2011-145669 2011-145667 2011-145666 2011-145690 2011-147121 2011-146749 2011-146694
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5月29日(木) -
5月29日(木) -
5月30日(金) -
5月30日(金) -
5月29日(木) - 東京 港区
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月5日(木) -
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