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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件 (2012年:第103位 453件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件 (2012年:第59位 620件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-229402 | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-224829 | 試験支援方法、試験支援プログラム、および試験支援装置 | 2013年10月31日 | |
特開 2013-224876 | 半導体試験装置、プローブカード及び半導体試験方法 | 2013年10月31日 | |
特開 2013-223066 | PLL回路 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-223286 | 電源装置及び電源の制御方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-223215 | 出力回路 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222040 | データ転送装置、データ転送方法、及び半導体装置 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222100 | レチクル、露光方法、半導体装置の製造方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222127 | セルライブラリおよびパターンデータ生成方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222801 | 半導体装置 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222881 | 半導体装置とその製造方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222992 | 判定装置、および判定方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222285 | バス回路および半導体装置 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222478 | 半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-218772 | 不揮発性メモリ、電子装置及び検証方法 | 2013年10月24日 |
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2013-229402 2013-224829 2013-224876 2013-223066 2013-223286 2013-223215 2013-222040 2013-222100 2013-222127 2013-222801 2013-222881 2013-222992 2013-222285 2013-222478 2013-218772
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11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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