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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 件
（
2012年： 件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 件
（2012年： 件）
（ランキング更新日：2026年10月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5375362 | 半導体装置の製造方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375383 | 出力バッファ回路 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5376025 | 不揮発性半導体記憶装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375896 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375984 | 半導体メモリおよびメモリシステム | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375590 | 量子化制御回路、量子化パラメータ変更方法、及び符号化装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375354 | 半導体素子及びその製造方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375402 | 半導体装置とその製造方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375601 | 半導体装置の製造方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375030 | イメージセンサ | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375891 | 半導体装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375219 | 撮像装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375330 | タイミング調整回路、タイミング調整方法及び補正値算出方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5375364 | 処理装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5369533 | 強誘電体メモリの製造方法および試験システム | 2013年12月18日 |
612 件中 1-15 件を表示
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5375362 5375383 5376025 5375896 5375984 5375590 5375354 5375402 5375601 5375030 5375891 5375219 5375330 5375364 5369533
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