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富士通セミコンダクター株式会社

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  2013年 出願公開件数ランキング    第144位 349件 下降2012年:第103位 453件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第64位 612件 下降2012年:第59位 620件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5375362 半導体装置の製造方法 2013年12月25日
特許 5375383 出力バッファ回路 2013年12月25日
特許 5376025 不揮発性半導体記憶装置 2013年12月25日
特許 5375896 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 2013年12月25日
特許 5375984 半導体メモリおよびメモリシステム 2013年12月25日
特許 5375590 量子化制御回路、量子化パラメータ変更方法、及び符号化装置 2013年12月25日
特許 5375354 半導体素子及びその製造方法 2013年12月25日
特許 5375402 半導体装置とその製造方法 2013年12月25日
特許 5375601 半導体装置の製造方法 2013年12月25日
特許 5375030 イメージセンサ 2013年12月25日
特許 5375891 半導体装置 2013年12月25日
特許 5375219 撮像装置 2013年12月25日
特許 5375330 タイミング調整回路、タイミング調整方法及び補正値算出方法 2013年12月25日
特許 5375364 処理装置 2013年12月25日
特許 5369533 強誘電体メモリの製造方法および試験システム 2013年12月18日

612 件中 1-15 件を表示

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5375362 5375383 5376025 5375896 5375984 5375590 5375354 5375402 5375601 5375030 5375891 5375219 5375330 5375364 5369533

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