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富士通セミコンダクター株式会社

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　■　2014年出願公開件数ランキング　　　第155位　297件（2013年：第144位　349件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第83位　448件（2013年：第64位　612件）

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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2014-146243	タイミング調整装置、処理装置、及びタイミング調整方法	2014年 8月14日
特開 2014-146220	半導体装置の設計方法、プログラム及び設計装置	2014年 8月14日
特開 2014-146108	論理シミュレーション装置、論理シミュレーションプログラム、集積回路、および複合集積回路	2014年 8月14日
特開 2014-145938	反射型マスクの検査装置、露光装置、反射型マスクを検査する方法及び露光方法	2014年 8月14日	共同出願
特開 2014-146709	反射型マスクの検査装置、露光装置、反射型マスク、反射型マスクを検査する方法及び露光方法	2014年 8月14日	共同出願
特開 2014-146869	位相補間回路および受信回路	2014年 8月14日
特開 2014-142253	試験支援方法、試験支援プログラム、および試験支援装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143613	画像処理装置、方法、及びプログラム、並びに撮像装置	2014年 8月 7日
特開 2014-142841	設計方法、設計プログラム、および回路	2014年 8月 7日
特開 2014-143271	半導体装置及びその製造方法	2014年 8月 7日
特開 2014-143549	集積回路装置	2014年 8月 7日
特開 2014-137292	スキャン回路、半導体装置および半導体装置の試験方法	2014年 7月28日
特開 2014-137224	半導体試験プログラム、半導体試験装置および半導体試験方法	2014年 7月28日
特開 2014-137608	半導体装置の設計方法及びプログラム	2014年 7月28日
特開 2014-138018	半導体装置とその製造方法	2014年 7月28日

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2014-146243 2014-146220 2014-146108 2014-145938 2014-146709 2014-146869 2014-142253 2014-143613 2014-142841 2014-143271 2014-143549 2014-137292 2014-137224 2014-137608 2014-138018

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