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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-120615 | 容量素子、容量アレイおよびＡ／Ｄ変換器 | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-120609 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-121236 | 電源装置 | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-117105 | 制御装置および電源装置 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-116981 | 集積回路 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-116255 | ロータリースイッチ及び試験測定装置 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115415 | レチクルパターンの形成方法 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115735 | 電子装置およびその制御方法 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-116792 | 半導体集積回路及び論理回路 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-116085 | プラズマフラッドガン及びイオン注入装置 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-116776 | 評価装置、及び評価装置における画質評価方法 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-110445 | コンパレータ及びその補正方法 | 2014年 6月12日 | 共同出願 |
| 特開 2014-107483 | ＯＢＩＲＣＨ検査方法及びＯＢＩＲＣＨ装置 | 2014年 6月 9日 | |
| 特開 2014-105996 | 半導体装置の試験装置及び試験方法 | 2014年 6月 9日 | |
| 再表 2012-90292 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 6月 5日 |
297 件中 121-135 件を表示
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2014-120615 2014-120609 2014-121236 2014-117105 2014-116981 2014-116255 2014-115415 2014-115735 2014-116792 2014-116085 2014-116776 2014-110445 2014-107483 2014-105996 2012-90292
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