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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第189位 230件 (2010年:第172位 293件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第194位 188件 (2010年:第158位 203件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-71157 | 電極形成装置および電極形成方法 | 2011年 4月 7日 | |
特開 2011-70788 | 全固体電池の製造方法 | 2011年 4月 7日 | |
特開 2011-66037 | パターン形成方法およびパターン形成装置 | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-66322 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-62905 | 印刷装置 | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-65223 | データ変換方法、描画システムおよびプログラム | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-65500 | グラフ描画装置及びグラフ描画プログラム | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-66301 | 基板洗浄装置および基板洗浄方法 | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-66272 | 基板乾燥方法及び基板乾燥装置 | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-66235 | 検査レシピ自動生成装置、ならびに検査レシピ自動生成プログラムおよびそれを記録した記録媒体 | 2011年 3月31日 | |
特開 2011-59927 | 基板処理装置のスケジュール作成方法及びそのプログラム | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-61034 | 基板処理装置 | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-61015 | 熱処理方法および熱処理装置 | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-60873 | パターン形成方法およびパターン形成装置 | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-53134 | 塗膜形成ムラ検査装置 | 2011年 3月17日 |
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2011-71157 2011-70788 2011-66037 2011-66322 2011-62905 2011-65223 2011-65500 2011-66301 2011-66272 2011-66235 2011-59927 2011-61034 2011-61015 2011-60873 2011-53134
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