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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第142位 322件 (2013年:第118位 415件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第261位 154件 (2013年:第163位 256件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-229370 | 複合膜の製造装置および製造方法 | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-219685 | 光学デバイス、光学デバイスの製造方法および露光装置 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-216974 | 開口パターンの設計方法、画像の復元方法および画像復元装置 | 2014年11月17日 | 共同出願 |
特開 2014-209310 | ラベリング方法、ラベリング装置および欠陥検査装置 | 2014年11月 6日 | |
特開 2014-209553 | 石定盤、石定盤の加工方法、石定盤の製造方法および基板処理装置 | 2014年11月 6日 | |
特開 2014-203975 | 薄膜形成装置 | 2014年10月27日 | |
特開 2014-199861 | パターン描画装置およびパターン描画方法 | 2014年10月23日 | |
特開 2014-197125 | 描画装置および描画方法 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197653 | 基板処理装置 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197580 | 露光装置 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197571 | 基板処理方法および基板処理装置 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197136 | 描画装置および描画方法 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197593 | 蓋ロック解除用治具およびそれを備えた蓋開放装置 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197592 | 基板処理装置 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-194432 | パターン測定装置およびパターン測定方法 | 2014年10月 9日 |
322 件中 1-15 件を表示
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2014-229370 2014-219685 2014-216974 2014-209310 2014-209553 2014-203975 2014-199861 2014-197125 2014-197653 2014-197580 2014-197571 2014-197136 2014-197593 2014-197592 2014-194432
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10月21日(月) -
日常実務の疑問点に答える著作権 (周辺領域の商標・不正競争防止法を含む)に関するQ&A ~日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Q&A形式で平易に解説~
10月22日(火) - 東京 港
10月22日(火) -
10月22日(火) -
10月22日(火) -
10月22日(火) -
10月23日(水) -
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10月23日(水) -
10月24日(木) -
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10月24日(木) - 東京 港
10月24日(木) -
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10月25日(金) -
10月25日(金) - 大阪 大阪市
10月25日(金) -
10月29日(火) - 東京 品川区
10月29日(火) - 東京 港区
10月29日(火) -
10月30日(水) - 千葉 千葉市
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10月30日(水) -
10月29日(火) - 東京 品川区
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