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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第189位 230件 (2010年:第172位 293件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第194位 188件 (2010年:第158位 203件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-180985 | シェーディング補正機能を有した画像読取装置 | 2011年 9月15日 | |
特開 2011-181795 | 基板処理装置 | 2011年 9月15日 | |
特開 2011-174853 | 水素含有率取得装置および水素含有率取得方法 | 2011年 9月 8日 | 共同出願 |
特開 2011-172686 | 薬液塗布装置および薬液塗布方法 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-175187 | 画像形成装置および画像形成方法 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-167655 | 塗布装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-170480 | 画像表示装置、描画システムおよびプログラム | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-161906 | 印刷装置および印刷方法 | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-157199 | 基板搬送装置、基板搬送方法および撮像装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-158373 | 自動欠陥分類のための教師データ作成方法、自動欠陥分類方法および自動欠陥分類装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-159989 | 基板周縁処理装置および基板周縁処理方法 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-159713 | 熱処理方法および熱処理装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-159680 | 熱処理方法および熱処理装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-159665 | 基板処理装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-155225 | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 | 2011年 8月11日 | 共同出願 |
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2011-180985 2011-181795 2011-174853 2011-172686 2011-175187 2011-167655 2011-170480 2011-161906 2011-157199 2011-158373 2011-159989 2011-159713 2011-159680 2011-159665 2011-155225
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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