株式会社東芝
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第3位 6349件
（
2011年：第3位 5997件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第5位 4366件
（2011年：第5位 3655件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社東芝の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-256361 | 避難誘導システム | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-255997 | 教育システム | 2012年12月27日 | 共同出願 |
| 特開 2012-256101 | 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256107 | 文章抽出装置およびプログラム | 2012年12月27日 | 共同出願 |
| 特開 2012-256108 | 注目評価対象抽出装置及びプログラム | 2012年12月27日 | 共同出願 |
| 特開 2012-256185 | パターン抽出装置及び方法 | 2012年12月27日 | 共同出願 |
| 特開 2012-256197 | 表記ゆれ検出装置及び表記ゆれ検出プログラム | 2012年12月27日 | 共同出願 |
| 特開 2012-256297 | 画像処理装置、方法、及びプログラム | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256331 | ＩＣカード及びＩＣカード処理システム | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256333 | 電子機器 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256350 | 情報処理装置および情報表示方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256364 | 情報処理装置及びそのブート制御方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256379 | 電子機器 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256015 | 消色装置 | 2012年12月27日 | 共同出願 |
| 特開 2012-256695 | マスク基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、フォトマスクの製造方法及び半導体装置の製造方法 | 2012年12月27日 | 共同出願 |
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2012-256361 2012-255997 2012-256101 2012-256107 2012-256108 2012-256185 2012-256197 2012-256297 2012-256331 2012-256333 2012-256350 2012-256364 2012-256379 2012-256015 2012-256695
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