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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第80位 506件
(2010年:第78位 581件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第60位 534件
(2010年:第73位 391件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-167329 | 二次元アレイX線検出器における欠損画素の検出方法および欠損画素の検出装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-167334 | 放射線撮影装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169740 | 質量分析装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-167294 | 画像処理装置および放射線撮像装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169165 | ターボ分子ポンプ | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169773 | 材料試験機 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169765 | アクティブ4ゲージ法を用いた測定装置の校正方法および測定装置並びに材料試験機 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169682 | オートサンプラ | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169704 | データ処理装置及びデータ処理プログラム | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171806 | 高速度撮影装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-170420 | 文書管理システム及び該システム用プログラム | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169164 | ターボ分子ポンプ、その起動方法および真空処理システム | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169866 | 振動試験装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169774 | 変位計用アンプ装置 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-164049 | 分取精製装置 | 2011年 8月25日 |
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2011-167329 2011-167334 2011-169740 2011-167294 2011-169165 2011-169773 2011-169765 2011-169682 2011-169704 2011-171806 2011-170420 2011-169164 2011-169866 2011-169774 2011-164049
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