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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第80位 506件
(2010年:第78位 581件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第60位 534件
(2010年:第73位 391件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-164049 | 分取精製装置 | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-164014 | ポリクロメータ | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-163870 | X線検査装置 | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-164545 | 表示装置 | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-155997 | X線撮影方法およびX線撮影装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-159422 | 質量分析装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-158357 | 放電イオン化電流検出器 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-159638 | プラズマ処理装置 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-153966 | 三次元クロマトグラム用データ処理方法及びデータ処理装置 | 2011年 8月11日 | |
特開 2011-153899 | 放射線断層撮影装置 | 2011年 8月11日 | |
特開 2011-152198 | X線撮影装置およびX線撮影方法 | 2011年 8月11日 | |
特開 2011-152197 | X線撮影装置およびX線撮影方法 | 2011年 8月11日 | |
再表 2009-130791 | マトリックス基板製造装置 | 2011年 8月11日 | |
特開 2011-154047 | 絶対反射測定装置 | 2011年 8月11日 | |
特開 2011-153975 | 核医学診断装置 | 2011年 8月11日 |
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2011-164049 2011-164014 2011-163870 2011-164545 2011-155997 2011-159422 2011-158357 2011-159638 2011-153966 2011-153899 2011-152198 2011-152197 2009-130791 2011-154047 2011-153975
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