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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第80位 506件
(2010年:第78位 581件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第60位 534件
(2010年:第73位 391件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-145242 | 発光分析装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145238 | X線分析用表示処理装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145177 | 電子天秤 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145124 | クロマトグラフ装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145089 | 質量分析方法及び質量分析装置 | 2011年 7月28日 | |
再表 2009-125584 | 放射線検出器 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145578 | 頭部装着型表示装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-146000 | 分析装置用制御装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-141225 | フレーム式原子吸光分光光度計 | 2011年 7月21日 | |
特開 2011-141220 | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム | 2011年 7月21日 | |
特開 2011-141217 | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム | 2011年 7月21日 | |
再表 2009-118832 | 放射線撮像装置 | 2011年 7月21日 | |
再表 2009-116177 | 光マトリックスデバイスの製造方法 | 2011年 7月21日 | |
再表 2009-116176 | 擬似パルス生成器 | 2011年 7月21日 | |
再表 2009-116174 | 2次元位置マップ校正方法 | 2011年 7月21日 |
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2011-145242 2011-145238 2011-145177 2011-145124 2011-145089 2009-125584 2011-145578 2011-146000 2011-141225 2011-141220 2011-141217 2009-118832 2009-116177 2009-116176 2009-116174
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