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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第104位 467件
(2012年:第97位 479件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第83位 474件
(2012年:第74位 511件)
(ランキング更新日:2025年7月18日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-152130 | データ収集装置 | 2013年 8月 8日 | |
特開 2013-152093 | 材料試験機 | 2013年 8月 8日 | |
特開 2013-148514 | 角度可変測定装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-148140 | 磁気軸受制御装置 | 2013年 8月 1日 | |
再表 2011-155103 | 2次元位置マップ校正方法 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-148992 | ネットワーク型分析装置システム及び同システム用ファイル管理プログラム | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-146293 | X線撮影装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-148543 | 電子線プローブマイクロアナライザ | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-148519 | 分析装置制御システム | 2013年 8月 1日 | |
再表 2011-155044 | TFTアレイ検査の電子線走査方法およびTFTアレイ検査装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-148606 | 周期的分極反転構造の形成方法及び周期的分極反転用電極 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149366 | 放電管ランプを備えた光源装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-145245 | 質量分析データ処理方法及び装置 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-145200 | 材料試験機 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-145169 | 分光分析装置 | 2013年 7月25日 |
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2013-152130 2013-152093 2013-148514 2013-148140 2011-155103 2013-148992 2013-146293 2013-148543 2013-148519 2011-155044 2013-148606 2013-149366 2013-145245 2013-145200 2013-145169
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【特許のはなし・生成系AIのリスクのはなし】~特許の使い方・使える特許の作り方と、生成系AIを業務で使う場合のリスクと対応策について~
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