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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
(2013年:第104位 467件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
(2013年:第83位 474件)
(ランキング更新日:2025年2月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
再表 2012-124041 | イオンガイド及び質量分析装置 | 2014年 7月17日 | |
再表 2012-124020 | 質量分析装置 | 2014年 7月17日 | |
特開 2014-128714 | X線撮影装置 | 2014年 7月10日 | |
特開 2014-128412 | X線透視装置 | 2014年 7月10日 | |
特開 2014-130076 | 材料試験機 | 2014年 7月10日 | |
特開 2014-130024 | 分析機器制御装置及び分析機器制御装置用プログラム | 2014年 7月10日 | |
特開 2014-130900 | 加熱装置 | 2014年 7月10日 | |
再表 2012-114862 | ターボ分子ポンプのボルト締結構造およびターボ分子ポンプ | 2014年 7月 7日 | |
特開 2014-127941 | 制御回路 | 2014年 7月 7日 | |
特開 2014-126506 | 材料試験機 | 2014年 7月 7日 | |
特開 2014-126505 | 変位測定装置および材料試験機 | 2014年 7月 7日 | |
特開 2014-126366 | 示差走査熱量計 | 2014年 7月 7日 | |
再表 2012-120791 | ポジトロンCT装置および再構成方法 | 2014年 7月 7日 | |
再表 2012-108034 | 質量分析装置 | 2014年 7月 3日 | |
再表 2012-104956 | 質量分析方法及び装置 | 2014年 7月 3日 |
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2012-124041 2012-124020 2014-128714 2014-128412 2014-130076 2014-130024 2014-130900 2012-114862 2014-127941 2014-126506 2014-126505 2014-126366 2012-120791 2012-108034 2012-104956
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2月27日(木) -
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2月27日(木) -
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3月4日(火) -
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
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3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
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3月7日(金) - 東京 港区
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