株式会社島津製作所
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
（
2013年：第104位 467件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
（2013年：第83位 474件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2012-108050 | 四重極型質量分析装置 | 2014年 7月 3日 | |
| 特開 2014-117588 | 光計測システムおよび光計測装置 | 2014年 6月30日 | |
| 再表 2012-101668 | データ処理装置およびそれを備えた放射線断層撮影装置 | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-120021 | バンドギャップ算出装置及びバンドギャップ算出プログラム | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-119403 | ガスクロマトグラフ装置 | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-119368 | 分光光度計及び分光分析用プログラム | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-120034 | 電子カルテシステム | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-120704 | 太陽電池基板保持装置 | 2014年 6月30日 | |
| 特開 2014-115206 | 分析システム及びその制御方法 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115174 | 材料試験機 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115173 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115172 | 試料加熱装置及び元素分析計 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115154 | フォトダイオードアレイ検出器 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-115087 | ペプチド構造解析方法及び装置 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-116442 | 外部共振器型半導体レーザ装置 | 2014年 6月26日 |
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2012-108050 2014-117588 2012-101668 2014-120021 2014-119403 2014-119368 2014-120034 2014-120704 2014-115206 2014-115174 2014-115173 2014-115172 2014-115154 2014-115087 2014-116442
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