※ ログインすれば出願人(株式会社島津製作所)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
(2013年:第104位 467件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
(2013年:第83位 474件)
(ランキング更新日:2025年7月18日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
再表 2012-108050 | 四重極型質量分析装置 | 2014年 7月 3日 | |
特開 2014-117588 | 光計測システムおよび光計測装置 | 2014年 6月30日 | |
再表 2012-101668 | データ処理装置およびそれを備えた放射線断層撮影装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120021 | バンドギャップ算出装置及びバンドギャップ算出プログラム | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-119403 | ガスクロマトグラフ装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-119368 | 分光光度計及び分光分析用プログラム | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120034 | 電子カルテシステム | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120704 | 太陽電池基板保持装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-115206 | 分析システム及びその制御方法 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-115174 | 材料試験機 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-115173 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-115172 | 試料加熱装置及び元素分析計 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-115154 | フォトダイオードアレイ検出器 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-115087 | ペプチド構造解析方法及び装置 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-116442 | 外部共振器型半導体レーザ装置 | 2014年 6月26日 |
428 件中 226-240 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-108050 2014-117588 2012-101668 2014-120021 2014-119403 2014-119368 2014-120034 2014-120704 2014-115206 2014-115174 2014-115173 2014-115172 2014-115154 2014-115087 2014-116442
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社島津製作所の知財の動向チェックに便利です。
7月23日(水) -
7月23日(水) -
7月23日(水) -
7月23日(水) -
7月24日(木) -
7月24日(木) -
7月24日(木) -
7月25日(金) -
7月25日(金) -
7月25日(金) - 大阪 大阪市
7月25日(金) - 東京 立川市
【特許のはなし・生成系AIのリスクのはなし】~特許の使い方・使える特許の作り方と、生成系AIを業務で使う場合のリスクと対応策について~
7月25日(金) -
7月25日(金) -
7月28日(月) -
7月28日(月) -
7月29日(火) -
7月30日(水) -
7月30日(水) -
7月28日(月) -
福岡市博多区博多駅前1-23-2-5F-B 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒130-0022 東京都墨田区江東橋4-24-5 協新ビル402 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都府中市寿町一丁目1-11 第2福井ビル5階 No.2 Fukui Bldg. 5F 1-11, Kotobukicho 1chome, Fuchu-shi Tokyo JAPAN 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング