株式会社島津製作所
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
（
2013年：第104位 467件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
（2013年：第83位 474件）
（ランキング更新日：2024年11月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5541374 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541220 | 材料試験機 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5540865 | 放射線撮影装置 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5536304 | 回診用Ｘ線撮影装置 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5532145 | Ｘ線検査装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5532126 | Ｘ線撮影用操作パネルおよびそれを備えたＸ線撮影装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5532051 | 真空ポンプ | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5531994 | 動圧気体軸受 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533807 | 液体クロマトグラフ用制御装置及びプログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533806 | 液体クロマトグラフ用制御装置及びプログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533805 | 液体クロマトグラフ及びプログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533793 | セクターミラー | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533641 | 分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533612 | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533296 | 半導体Ｘ線検出素子、その製造方法および半導体Ｘ線検出用センサ | 2014年 6月25日 |
435 件中 166-180 件を表示
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5541374 5541220 5540865 5536304 5532145 5532126 5532051 5531994 5533807 5533806 5533805 5533793 5533641 5533612 5533296
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