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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第97位 479件 (2011年:第80位 506件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第74位 511件 (2011年:第60位 534件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5109988 | 粒子径測定装置及び粒子径測定方法 | 2012年12月26日 | |
特許 5109948 | 材料試験機 | 2012年12月26日 | |
特許 5110030 | 材料試験機 | 2012年12月26日 | |
特許 5109344 | 磁気測定システム | 2012年12月26日 | |
特許 5109987 | 材料試験機 | 2012年12月26日 | |
特許 5109932 | におい測定装置 | 2012年12月26日 | |
特許 5110005 | 補正用位置情報取得方法、位置ズレ補正方法、画像処理装置および放射線撮像装置 | 2012年12月26日 | |
特許 5109800 | 磁気計測装置 | 2012年12月26日 | |
特許 5110295 | X線診断装置 | 2012年12月26日 | |
特許 5109951 | 回転曲げ試験機用治具および回転曲げ試験機の検査方法 | 2012年12月26日 | |
特許 5104334 | 真空ポンプ | 2012年12月19日 | |
特許 5104951 | 粒子線治療装置 | 2012年12月19日 | |
特許 5104857 | 放射線検出器 | 2012年12月19日 | |
特許 5104813 | 紫外線照射装置及びそれを用いた全有機体炭素測定装置 | 2012年12月19日 | |
特許 5104957 | 蛍光画像検出装置及び蛍光画像検出方法 | 2012年12月19日 |
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5109988 5109948 5110030 5109344 5109987 5109932 5110005 5109800 5110295 5109951 5104334 5104951 5104857 5104813 5104957
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