株式会社島津製作所
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
（
2013年：第104位 467件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
（2013年：第83位 474件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5531994 | 動圧気体軸受 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533807 | 液体クロマトグラフ用制御装置及びプログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533806 | 液体クロマトグラフ用制御装置及びプログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533805 | 液体クロマトグラフ及びプログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533793 | セクターミラー | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533641 | 分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533612 | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533296 | 半導体Ｘ線検出素子、その製造方法および半導体Ｘ線検出用センサ | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533255 | 質量分析方法及び装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5532442 | ＴＦＴアレイの欠陥検出方法およびＴＦＴアレイの欠陥検出装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5527715 | 基板検査装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5531515 | 荷電粒子ビーム照射装置及び該装置の軸合わせ調整方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5531556 | 撮影データ処理装置及び撮影データ処理用プログラム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5532948 | Ｘ線検出器 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5532539 | Ｘ線検査装置 | 2014年 6月25日 |
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5531994 5533807 5533806 5533805 5533793 5533641 5533612 5533296 5533255 5532442 5527715 5531515 5531556 5532948 5532539
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