株式会社島津製作所
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第104位 467件
（
2012年：第97位 479件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第83位 474件
（2012年：第74位 511件）
（ランキング更新日：2025年5月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5222810 | 電磁式アクチュエータおよび材料試験機 | 2013年 6月26日 | 共同出願 |
| 特許 5212376 | 放射線画像処理装置および放射線画像処理プログラム | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5212162 | Ｘ線撮像装置 | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5217580 | 分析装置用制御装置 | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5212274 | 材料試験機 | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5212254 | 表面分析装置 | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5206426 | 放射線撮像装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5207038 | 積層ウェハ端面のシール形成方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5211880 | Ｘ線断層像撮影装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5211753 | クロマトグラフ用データ処理装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5211656 | トロイダル面評価方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5206790 | 質量分析装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5206646 | ガスクロマトグラフ装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5206605 | イオントラップ質量分析装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5206567 | ガスクロマトグラフ装置 | 2013年 6月12日 |
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5222810 5212376 5212162 5217580 5212274 5212254 5206426 5207038 5211880 5211753 5211656 5206790 5206646 5206605 5206567
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