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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第104位 467件
(2012年:第97位 479件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第83位 474件
(2012年:第74位 511件)
(ランキング更新日:2025年5月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5176865 | 放射線測定方法および装置 | 2013年 4月 3日 | |
特許 5170432 | 移動式X線撮影装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5169898 | 放射線断層撮影装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5169867 | 放射線撮像装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5170304 | 分取精製装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5169040 | 優先型分流弁 | 2013年 3月27日 | |
特許 5170464 | ガスクロマトグラフ | 2013年 3月27日 | |
特許 5170429 | 分析装置用画像表示装置及び該装置を用いた表面分析装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5170034 | ガス分析装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5170019 | ガス分析装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5170004 | エアロゾル微粒子計測装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5169952 | 通気方法及び通気装置 | 2013年 3月27日 | |
特許 5169897 | 回折効率測定器及び回折効率測定方法 | 2013年 3月27日 | |
特許 5169005 | 分光光度計及び計測信号補正方法 | 2013年 3月27日 | |
特許 5168730 | 磁気計測装置 | 2013年 3月27日 |
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5176865 5170432 5169898 5169867 5170304 5169040 5170464 5170429 5170034 5170019 5170004 5169952 5169897 5169005 5168730
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5月29日(木) -
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5月30日(金) -
5月28日(水) - 東京 港区
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
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