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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第104位 467件 (2012年:第97位 479件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第83位 474件 (2012年:第74位 511件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5152567 | TFTアレイ検査装置 | 2013年 2月27日 | |
特許 5152406 | 液体クロマトグラフ | 2013年 2月27日 | |
特許 5152335 | 四重極型質量分析装置及び四重極型質量分析装置の調整方法 | 2013年 2月27日 | |
特許 5152327 | 放射線断層撮影装置、およびその製造方法 | 2013年 2月27日 | |
特許 5152320 | 質量分析装置 | 2013年 2月27日 | |
特許 5152202 | ポジトロンCT装置 | 2013年 2月27日 | |
特許 5152083 | 分光蛍光光度計 | 2013年 2月27日 | |
特許 5151805 | X線検査装置の調整方法 | 2013年 2月27日 | |
特許 5151678 | フレーム式原子吸光光度計 | 2013年 2月27日 | |
特許 5151540 | 目標体探査器 | 2013年 2月27日 | |
特許 5151073 | 光度計 | 2013年 2月27日 | |
特許 5152101 | 表示装置 | 2013年 2月27日 | |
特許 5151359 | 頭部装着型画像取得装置及びそれを用いた頭部装着型表示装置 | 2013年 2月27日 | |
特許 5151358 | 頭部装着型表示装置 | 2013年 2月27日 | |
特許 5146574 | 回診用X線撮影装置 | 2013年 2月20日 |
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5152567 5152406 5152335 5152327 5152320 5152202 5152083 5151805 5151678 5151540 5151073 5152101 5151359 5151358 5146574
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