株式会社島津製作所
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第104位 467件
（
2012年：第97位 479件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第83位 474件
（2012年：第74位 511件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5365547 | ＭＡＬＤＩ−ＭＳ用試料調製方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365427 | ＴＯＣ計及びＣＯ２吸収剤の寿命評価方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365010 | Ｘ線透視による３次元観測方法およびＸ線透視装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365475 | 放射線撮像装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5360391 | 粒子測定方法および装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5360418 | 放射線断層撮影装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5360150 | 質量分析装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5360397 | 放射線撮影装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5360409 | 回診用Ｘ線撮影装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5360053 | 校正用ガスセルを搭載したガス分析装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5359681 | Ｘ線スペクトル表示処理装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5359832 | ガス分析装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5359926 | 質量分析装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5358890 | 干渉分光光度計 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5359924 | 質量分析装置 | 2013年12月 4日 |
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5365547 5365427 5365010 5365475 5360391 5360418 5360150 5360397 5360409 5360053 5359681 5359832 5359926 5358890 5359924
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