株式会社島津製作所
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
（
2013年：第104位 467件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
（2013年：第83位 474件）
（ランキング更新日：2025年6月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5601370 | 大気圧イオン化質量分析装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5601348 | プラズマ発生ユニット及び表面波励起プラズマ処理装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5601208 | 陽電子放射断層撮像装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5600930 | Ｘ線撮影装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5598419 | 成膜装置及び成膜方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5598435 | タッチパネルつき液晶表示装置を備えた分析装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597917 | 目標体探査システム | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5598407 | 成膜処理装置および成膜方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5598586 | 透視撮影台 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5594041 | ガス濃度測定装置 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5594989 | ガスクロマトグラフ分析装置用設計・分析支援プログラム | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5594944 | モーショントラッカ装置 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5589750 | 質量分析装置用イオン化装置及び該イオン化装置を備える質量分析装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5590156 | 質量分析方法及び装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5590043 | ＴＦＴ基板検査装置およびＴＦＴ基板検査方法 | 2014年 9月17日 |
435 件中 61-75 件を表示
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5601370 5601348 5601208 5600930 5598419 5598435 5597917 5598407 5598586 5594041 5594989 5594944 5589750 5590156 5590043
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