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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第97位 479件 (2011年:第80位 506件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第74位 511件 (2011年:第60位 534件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5070820 | 固体レーザ装置 | 2012年11月14日 | |
特許 5071179 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2012年11月14日 | |
特許 5074105 | エネルギ分散型X線検出装置 | 2012年11月14日 | |
特許 5071432 | つかみ具 | 2012年11月14日 | |
特許 5071676 | パルス透視モードを備えたX線装置 | 2012年11月14日 | |
特許 5071166 | ガスクロマトグラフ装置 | 2012年11月14日 | |
特許 5067382 | 分析装置、及び、分析制御用プログラム | 2012年11月 7日 | |
特許 5067830 | 多型アレル判定プログラム、多型アレル判定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、及び多型アレル判定方法 | 2012年11月 7日 | 共同出願 |
特許 5066583 | 測定装置並びにそれらを備えた液体採取測定システム | 2012年11月 7日 | 共同出願 |
特許 5067269 | マッピング分析装置 | 2012年11月 7日 | |
特許 5067709 | CVD装置 | 2012年11月 7日 | |
特許 5066815 | 反射型回折格子 | 2012年11月 7日 | |
特許 5067652 | 電子銃フィラメントのモニタ方法、および制御方法 | 2012年11月 7日 | |
特許 5061844 | 磁気探知装置 | 2012年10月31日 | |
特許 5062094 | 発光分析装置 | 2012年10月31日 |
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5070820 5071179 5074105 5071432 5071676 5071166 5067382 5067830 5066583 5067269 5067709 5066815 5067652 5061844 5062094
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11月26日(火) -
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11月27日(水) -
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11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
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12月1日(日) -
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