株式会社島津製作所
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第97位 479件
（
2011年：第80位 506件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第74位 511件
（2011年：第60位 534件）
（ランキング更新日：2025年6月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5061844 | 磁気探知装置 | 2012年10月31日 | |
| 特許 5062312 | Ｘ線透視装置 | 2012年10月31日 | |
| 特許 5062094 | 発光分析装置 | 2012年10月31日 | |
| 特許 5062444 | ＴＦＴパネル基板検査装置 | 2012年10月31日 | |
| 特許 5056022 | 回診用Ｘ線撮影装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056152 | ターボ分子ポンプ | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056628 | 放射線撮影装置、およびその制御プログラム | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056630 | Ｘ線ＣＴ装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056712 | 原子吸光分光光度計 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056792 | 送液装置及びその送液装置を用いた分取液体クロマトグラフ | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056597 | 大気圧イオン化質量分析装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056930 | 液体クロマトグラフ質量分析計 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056626 | 分析装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5056169 | 質量分析データ解析方法及び装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5055936 | 分光光度計 | 2012年10月24日 |
511 件中 91-105 件を表示
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5061844 5062312 5062094 5062444 5056022 5056152 5056628 5056630 5056712 5056792 5056597 5056930 5056626 5056169 5055936
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