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三星ディスプレイ株式會社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第268位 171件
（
2012年：第11791位 1件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第89位 447件
（2012年：第6156位 2件）
（ランキング更新日：2025年1月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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三星ディスプレイ株式會社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-235240 | 表示装置 | 2013年11月21日 | |
| 特開 2013-235269 | 表示装置及びその製造方法 | 2013年11月21日 | |
| 特開 2013-232437 | バックライトアセンブリ、それを含む表示モジュール、及びその製造方法 | 2013年11月14日 | |
| 特開 2013-231238 | 薄膜蒸着装置 | 2013年11月14日 | |
| 特開 2013-229278 | 有機発光表示装置およびその製造方法 | 2013年11月 7日 | |
| 特開 2013-228743 | 液晶表示装置用基板、液晶表示装置及びその製造方法 | 2013年11月 7日 | |
| 特開 2013-223877 | レーザーシーリング装置及びこれを利用した有機発光表示装置の製造方法 | 2013年10月31日 | |
| 特開 2013-225135 | 液晶表示装置用基板、液晶表示装置及びその製造方法 | 2013年10月31日 | |
| 特開 2013-225098 | 液晶表示装置 | 2013年10月31日 | |
| 特開 2013-222202 | 表示装置及びその製造方法 | 2013年10月28日 | |
| 特開 2013-222206 | 表示装置の駆動方法 | 2013年10月28日 | |
| 特開 2013-217910 | シリコン薄膜測定方法、シリコン薄膜欠陥検出方法、及びシリコン薄膜欠陥検出装置 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-218659 | 表示装置 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-219384 | 単結晶窒化物系半導体基板及びこれを用いた高品質の窒化物系発光素子製造方法 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-214701 | 半導体装置、薄膜トランジスタアレイパネル及びこれを含む表示装置、並びに薄膜トランジスタの製造方法 | 2013年10月17日 |
171 件中 31-45 件を表示
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2013-235240 2013-235269 2013-232437 2013-231238 2013-229278 2013-228743 2013-223877 2013-225135 2013-225098 2013-222202 2013-222206 2013-217910 2013-218659 2013-219384 2013-214701
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