オムロン株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第178位 249件
（
2010年：第99位 483件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第105位 330件
（
2010年：第121位 258件）
（ランキング更新日：2025年7月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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オムロン株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4631384 | 印刷状態検査方法ならびに文字検査方法、およびこれらの方法を用いた検査装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4631671 | 光ケーブルモジュール、および光ケーブルモジュールを備える電子機器 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4631995 | 電圧設定装置、太陽光発電システム、および電圧設定装置の制御方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4626326 | 表示装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4626650 | モデル構造のパラメータ決定方法、パラメータ決定装置、制御装置および温度調節器 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4626288 | 遊技球発射装置 | 2011年 2月 2日 | |
| 特許 4623261 | 光電センサにおける光軸調整方法 | 2011年 2月 2日 | |
| 特許 4622594 | 反応制御装置 | 2011年 2月 2日 | |
| 特許 4622301 | 監視システム、および監視カメラ | 2011年 2月 2日 | |
| 特許 4623291 | ＰＬＣシステムにおけるネットワーク構成情報教示方法 | 2011年 2月 2日 | |
| 特許 4618459 | ＲＦＩＤタグ、ＲＦＩＤタグセット及びＲＦＩＤシステム | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4618178 | 端子およびその製造方法 | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4617998 | 不良要因分析システム | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4613755 | 検査装置および検査方法 | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4609253 | なりすまし検出装置及び顔認証装置 | 2011年 1月12日 |
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4631384 4631671 4631995 4626326 4626650 4626288 4623261 4622594 4622301 4623291 4618459 4618178 4617998 4613755 4609253
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