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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第439位 92件 (2012年:第385位 107件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第439位 82件 (2012年:第306位 119件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5124424 | 光学式変位計 | 2013年 1月23日 | |
特許 5119355 | レーザ加工装置、レーザ加工条件設定装置、レーザ加工条件設定方法、レーザ加工条件設定プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 | 2013年 1月16日 | |
特許 5118866 | レーザマーカ及びレーザパワーの表示調整方法 | 2013年 1月16日 | |
特許 5118948 | 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム | 2013年 1月16日 | |
特許 5116640 | 検出候補の近傍排除処理機能を有する画像処理装置及び画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2013年 1月 9日 | |
特許 5114301 | 画像計測装置、画像計測方法及びコンピュータプログラム | 2013年 1月 9日 | |
特許 5116379 | レーザ加工装置並びにその設定方法及び設定プログラム | 2013年 1月 9日 |
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5124424 5119355 5118866 5118948 5116640 5114301 5116379
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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