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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第11位 3031件
(2011年:第13位 2979件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第7位 3225件
(2011年:第11位 2863件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-172233 | 成膜方法及び成膜装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-172853 | 空調システム及び空調方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-175085 | メモリ素子および温度センサ | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-175042 | 半導体装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173216 | 結露検知装置、電子機器、及び結露検知方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173118 | 温度計測システムおよび温度計測方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173082 | 強誘電体の分極の可視化方法及びその可視化装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173070 | 移動端末位置推定装置、移動端末位置推定方法及び電波環境指標算出方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173013 | 推定位置評価システム及びプログラム | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173707 | 光半導体素子及びその製造方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-175543 | 動きベクトル検出装置、動きベクトル検出方法および動画像符号化装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-175086 | 結露検知装置、電子機器冷却システム、及び結露検出方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-174914 | 冷却システム及び冷却装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-174327 | 試験方法,試験プログラム,及び試験装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-174232 | 監視装置、監視システムおよび監視方法 | 2012年 9月10日 |
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2012-172233 2012-172853 2012-175085 2012-175042 2012-173216 2012-173118 2012-173082 2012-173070 2012-173013 2012-173707 2012-175543 2012-175086 2012-174914 2012-174327 2012-174232
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2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
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