富士通株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第13位 2979件
（
2010年：第10位 3808件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第11位 2863件
（
2010年：第13位 2098件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4841979 | 手数料最適化方法および手数料最適化プログラム | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843034 | 温度センサ用リングオシレータ、温度センサ回路及びこれを備える半導体装置 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842291 | 光半導体装置及び赤外線検出装置 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4841599 | 宅配支援方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842376 | 表面検査装置及び方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4840018 | 形状データ検索プロブラム及び方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842742 | ソフトウェア管理プログラム、ソフトウェア管理方法およびソフトウェア管理装置 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843451 | データ生成方法、結線チェックシステム、およびデータ生成プログラム | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842374 | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842041 | スイッチ | 2011年12月21日 | |
| 特許 4841458 | 結晶試料の形状評価方法および形状評価装置、プログラム | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842494 | イオン分布計算方法およびプログラム | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843710 | 導電性反射防止膜形成用材料、導電性反射防止膜の形成方法、レジストパターン形成方法、半導体装置、及び磁気ヘッド | 2011年12月21日 | |
| 特許 4840306 | 通信抑制方法、通信抑制装置、および通信抑制プログラム | 2011年12月21日 | |
| 特許 4841600 | 電子機器 | 2011年12月21日 |
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4841979 4843034 4842291 4841599 4842376 4840018 4842742 4843451 4842374 4842041 4841458 4842494 4843710 4840306 4841600
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