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ケーエルエー−テンカーコーポレイション

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　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第1030位　27件（2013年：第850位　36件）

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ケーエルエー−テンカーコーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特表 2014-512101	向上したプロセス制御のための品質測定値を提供するための方法およびシステム	2014年 5月19日
特表 2014-511504	偏光角度が調節可能な複合偏光子	2014年 5月15日
特表 2014-511482	レーザ液滴プラズマ照明器による光学結像システム	2014年 5月15日
特開 2014-90178	統合化されたプロセス条件検知用ウェハおよびデータ解析システム	2014年 5月15日
特開 2014-78032	深紫外スペクトル域拡張型カタジオプトリック結像系	2014年 5月 1日
特表 2014-510277	独立的に調節可能な走査ピッチを有する表面走査検査システム	2014年 4月24日
特開 2014-74727	連続多波長表面スキャンを用いて表面レイヤ厚さを決定する方法および装置	2014年 4月24日
特表 2014-509070	表面計測ツールにおける改善された局部的特徴定量化のための方法及びシステム	2014年 4月10日
特表 2014-507808	設計ベースデバイスリスク評価	2014年 3月27日
特表 2014-507798	ＥＵＶ結像のための装置およびその装置を用いた方法	2014年 3月27日
特表 2014-507781	半導体ウェーハのリアルタイム三次元ＳＥＭ画像化およびビューイングのための装置および方法	2014年 3月27日
特表 2014-507051	集束電子ビーム機器のスループットを向上させるための多極静電偏向器	2014年 3月20日
特表 2014-505965	製造された基板上の点在したホットスポット領域を検査する方法および装置	2014年 3月 6日
特開 2014-42069	散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法	2014年 3月 6日
特表 2014-504803	進歩したウェーハ表面ナノトポグラフィのためのオブジェクトに基づく計測方法及びシステム	2014年 2月24日

64 件中 46-60 件を表示

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2014-512101 2014-511504 2014-511482 2014-90178 2014-78032 2014-510277 2014-74727 2014-509070 2014-507808 2014-507798 2014-507781 2014-507051 2014-505965 2014-42069 2014-504803

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