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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第4位 5445件
(2011年:第4位 5827件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第12位 2711件
(2011年:第8位 2945件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-252863 | 発光装置の製造方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-253594 | 画像表示システム及びその制御方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251776 | 検出装置、センサーデバイス及び電子機器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251801 | モジュールおよび電子機器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251802 | 保持部材、モジュールおよび電子機器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251803 | モジュールおよび電子機器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251823 | 孔形状検査方法および孔形状検査プログラム | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251893 | 形状計測装置、形状計測装置の制御方法、およびプログラム | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251925 | 物理量センサー、物理量センサーの制御方法、電子機器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251944 | センサーモジュール | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251946 | センサーモジュール | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251947 | 電子機器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251972 | 熱サイクル装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251973 | 熱サイクル装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-252013 | 振動ジャイロ素子およびジャイロセンサ | 2012年12月20日 |
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2012-252863 2012-253594 2012-251776 2012-251801 2012-251802 2012-251803 2012-251823 2012-251893 2012-251925 2012-251944 2012-251946 2012-251947 2012-251972 2012-251973 2012-252013
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2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
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2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月25日(火) -
2月25日(火) -
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2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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