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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5536983 | 光学測定装置 | ポリテック・ゲー・エム・ベー・ハー | 2014年 7月 2日 |
特許 5455238 | 干渉振動計及び干渉振動測定方法 | ポリテック・ゲー・エム・ベー・ハー | 2014年 3月26日 |
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5536983 5455238
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3月18日(火) -
3月18日(火) - 東京 港区
3月19日(水) -
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3月21日(金) -
3月21日(金) -
3月21日(金) - 石川 金沢市
3月18日(火) -
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