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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第97位 479件
(2011年:第80位 506件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第74位 511件
(2011年:第60位 534件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5103697 | 3次元光学カメラ | 2012年12月19日 | |
特許 5104649 | X線診断装置 | 2012年12月19日 | |
特許 5104643 | 粒子径測定装置及び粒子径測定方法 | 2012年12月19日 | |
特許 5104857 | 放射線検出器 | 2012年12月19日 | |
特許 5104120 | 分析装置制御システム及び分析装置制御プログラム | 2012年12月19日 | |
特許 5104823 | 表示装置 | 2012年12月19日 | |
特許 5104957 | 蛍光画像検出装置及び蛍光画像検出方法 | 2012年12月19日 | |
特許 5093371 | 分光光度計 | 2012年12月12日 | |
特許 5098906 | 材料試験機システム | 2012年12月12日 | |
特許 5093539 | 液晶アレイ検査装置および液晶アレイ検査装置の信号処理方法 | 2012年12月12日 | |
特許 5098995 | センサ特性補正装置および材料試験機 | 2012年12月12日 | |
特許 5099055 | 放射線断層撮影装置 | 2012年12月12日 | |
特許 5093377 | 電子捕獲検出器 | 2012年12月12日 | |
特許 5098950 | クライアント・サーバ型分析システム | 2012年12月12日 | |
特許 5098960 | 材料試験機および試験力表示装置 | 2012年12月12日 |
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5103697 5104649 5104643 5104857 5104120 5104823 5104957 5093371 5098906 5093539 5098995 5099055 5093377 5098950 5098960
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
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2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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