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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第109位 389件
(2015年:第83位 507件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第81位 373件
(2015年:第111位 267件)
(ランキング更新日:2025年2月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5920166 | 放射能検査方法および放射能検査装置 | 2016年 5月18日 | |
特許 5920461 | 荷役制御装置 | 2016年 5月18日 | |
特許 5920462 | 基板移載装置及び基板移載方法 | 2016年 5月18日 | |
特許 5915451 | フローセル | 2016年 5月11日 | |
特許 5915467 | 液体クロマトグラフ検出器用送液管及び液体クロマトグラフ | 2016年 5月11日 | |
特許 5915470 | 分光光度計 | 2016年 5月11日 | |
特許 5915498 | 重水素ランプ用電源回路 | 2016年 5月11日 | |
特許 5915560 | 分析装置 | 2016年 5月11日 | |
特許 5915702 | 多重周回飛行時間型質量分析装置 | 2016年 5月11日 | |
特許 5915758 | 粒度分布データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布データ処理方法及び粒度分布データ処理プログラム | 2016年 5月11日 | |
特許 5915760 | 質量分析器、及び質量分析計、並びにそれらに関連する方法 | 2016年 5月11日 | |
特許 5915797 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2016年 5月11日 | |
特許 5915810 | 外囲器回転型X線管装置 | 2016年 5月11日 | |
特許 5910139 | レーザ式ガス分析装置 | 2016年 4月27日 | |
特許 5910161 | 放電イオン化電流検出器と試料ガス検出方法 | 2016年 4月27日 |
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5920166 5920461 5920462 5915451 5915467 5915470 5915498 5915560 5915702 5915758 5915760 5915797 5915810 5910139 5910161
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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