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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第76位 653件
(2016年:第109位 389件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第71位 403件
(2016年:第81位 373件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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再表 2016-132422 | ノイズレベル推定方法、測定データ処理装置、及び測定データ処理用プログラム | 2017年 7月13日 | |
再表 2016-143030 | 平行平板型不均一電場イオン移動度分光装置 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-122601 | 液中電位測定用電極装置 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-122629 | 分析装置 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-122698 | ポリクロメータ及びこれを備えた分析装置 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-122699 | 分析装置 | 2017年 7月13日 | |
再表 2016-84420 | ディジタルホログラフィ装置及びディジタルホログラム生成方法 | 2017年 7月 6日 | |
再表 2016-117066 | 質量分析装置及びイオン移動度分析装置 | 2017年 7月 6日 | |
再表 2016-120958 | 3次元スペクトルデータ処理装置及び処理方法 | 2017年 7月 6日 | |
特開 2017-118910 | 放射線透視撮影装置 | 2017年 7月 6日 | |
特開 2017-119898 | スパッタリングターゲット及びスパッタ装置 | 2017年 7月 6日 | |
特開 2017-120040 | 監視装置および監視プログラム | 2017年 7月 6日 | |
特開 2017-120235 | 光照射装置 | 2017年 7月 6日 | |
特開 2017-120236 | 光照射装置 | 2017年 7月 6日 | |
再表 2016-79879 | 走査型プローブ顕微鏡用データ表示処理装置、走査型プローブ顕微鏡用データ表示処理方法及び制御プログラム | 2017年 6月29日 |
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2016-132422 2016-143030 2017-122601 2017-122629 2017-122698 2017-122699 2016-84420 2016-117066 2016-120958 2017-118910 2017-119898 2017-120040 2017-120235 2017-120236 2016-79879
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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2月20日(木) - 東京 港区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -