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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第140位 307件
(
2016年:第123位 337件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第71位 403件
(
2016年:第81位 373件)
(ランキング更新日:2026年10月29日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6245387 | 3次元スペクトルデータ処理装置及び処理方法 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6245364 | 半導体レーザ装置 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6245361 | 質量分析用データ処理装置及び同装置用プログラム | 2017年12月13日 | |
| 特許 6245183 | アナログ信号処理回路、物理量測定装置および材料試験機 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6245098 | 内圧疲労試験機 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6244897 | X線分析装置 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6244734 | 磁気軸受装置および真空ポンプ | 2017年12月13日 | |
| 特許 6244726 | 暗視装置 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6241537 | 磁性体粒子の操作方法および磁性体粒子操作用デバイス | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6241222 | 真空ポンプ | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6241223 | 真空ポンプ | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6241483 | フィードバック制御装置 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6241386 | X線透視撮影装置 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6237526 | 材料試験機 | 2017年11月29日 | |
| 特許 6237510 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法並びにクロマトグラフ分析システム | 2017年11月29日 |
409 件中 16-30 件を表示
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6245387 6245364 6245361 6245183 6245098 6244897 6244734 6244726 6241537 6241222 6241223 6241483 6241386 6237526 6237510
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