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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第76位 653件 (2016年:第109位 389件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第71位 403件 (2016年:第81位 373件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6206273 | 分取精製方法及び分取精製装置 | 2017年10月 4日 | |
特許 6206501 | 断層画像処理方法およびそれにおける各工程を実行するための手段を備えた放射線放出型断層撮影装置 | 2017年10月 4日 | |
特許 6207036 | 質量分析データ処理方法及び装置 | 2017年10月 4日 | |
特許 6201437 | パルスレーザ装置 | 2017年 9月27日 | |
特許 6201499 | 分析装置 | 2017年 9月27日 | |
特許 6201547 | 分光器の波長校正方法 | 2017年 9月27日 | |
特許 6201551 | ガス分析装置 | 2017年 9月27日 | |
特許 6201552 | フーリエ変換赤外分光光度計 | 2017年 9月27日 | |
特許 6202098 | 成膜装置および成膜方法 | 2017年 9月27日 | |
特許 6202103 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2017年 9月27日 | |
特許 6202116 | ポリキャピラリー光学素子およびX線回折装置 | 2017年 9月27日 | |
特許 6202206 | MS/MS型質量分析方法及びMS/MS型質量分析装置 | 2017年 9月27日 | |
特許 6202214 | 飛行時間型質量分析装置 | 2017年 9月27日 | |
特許 6197963 | 画像処理装置 | 2017年 9月20日 | |
特許 6194622 | 照明装置及び検査装置 | 2017年 9月13日 |
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6206273 6206501 6207036 6201437 6201499 6201547 6201551 6201552 6202098 6202103 6202116 6202206 6202214 6197963 6194622
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11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
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11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
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11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
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12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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