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株式会社日立ハイテクファインシステムズ

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　■　2016年特許取得件数ランキング　　　第24808位　0件（2015年：第23268位　0件）

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株式会社日立ハイテクファインシステムズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-206071	検査装置及び検査方法	2016年12月 8日
特開 2016-206109	磁気ディスク検査装置及び磁気ディスク検査方法	2016年12月 8日
特開 2016-207620	リチウムイオン二次電池及びその製造方法と製造装置	2016年12月 8日
特開 2016-207726	トランス及び充電装置	2016年12月 8日
特開 2016-189660	検査装置及び検査方法	2016年11月 4日
特開 2016-189661	検査装置	2016年11月 4日
特開 2016-186833	熱アシスト磁気ヘッド素子の検査装置及びその方法	2016年10月27日
特開 2016-167914	充電装置	2016年 9月15日
特開 2016-167915	充電装置	2016年 9月15日
特開 2016-142567	検査方法及び装置	2016年 8月 8日
特開 2016-135046	検査装置及び検査方法	2016年 7月25日
特開 2016-115576	リチウムイオン電池の製造方法、リチウムイオン電池の製造装置およびリチウムイオン電池	2016年 6月23日
特開 2016-77070	架空ケーブルを走行する移動機械及びその移動方法	2016年 5月12日
特開 2016-72026	蓄電デバイスの製造装置および蓄電デバイスの製造方法	2016年 5月 9日
特開 2016-72139	無機多孔質薄膜の製造装置および製造方法	2016年 5月 9日

17 件中 1-15 件を表示

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2016-206071 2016-206109 2016-207620 2016-207726 2016-189660 2016-189661 2016-186833 2016-167914 2016-167915 2016-142567 2016-135046 2016-115576 2016-77070 2016-72026 2016-72139

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