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株式会社日立ハイテクファインシステムズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第4398位 4件
（
2020年：第3088位 6件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第5804位 2件
（2020年：第4019位 3件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクファインシステムズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2021-167794 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、散乱光検出系 | 2021年10月21日 | |
| 特開 2021-157512 | 加工装置および加工方法 | 2021年10月 7日 | |
| 特開 2021-149491 | 印刷システム | 2021年 9月27日 | |
| 特開 2021-139720 | 自動定容装置及び自動定容方法、並びに自動定容システム | 2021年 9月16日 | |
| 再表 2020-12647 | 交通路設備の検測装置のセンサーユニット冷却装置及びセンサーユニット冷却方法 | 2021年 7月15日 |
5 件中 1-5 件を表示
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2021-167794 2021-157512 2021-149491 2021-139720 2020-12647
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