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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第5492位 3件
(
2023年:第5948位 3件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第4647位 3件
(
2023年:第6302位 2件)
(ランキング更新日:2026年5月8日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7541620 | 画像化装置を使用して測定位置内の少なくとも1つの測定対象物のシルエット輪郭を記録する方法 | 2024年 8月28日 | |
| 特許 7535201 | エッチングマスクの製造方法、構造体を基板にエッチングする方法、テトレル(tetrel)層の使用及びマスクを製造するための構造体 | 2024年 8月15日 | |
| 特許 7499983 | 光電子チップのためのウェハレベル試験方法 | 2024年 6月14日 |
3 件中 1-3 件を表示
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7541620 7535201 7499983
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