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株式会社ニコン

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　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第63位　728件（2016年：第83位　510件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第45位　566件（2016年：第40位　668件）

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株式会社ニコンの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
再表 2015-151461	超解像観察装置及び超解像観察方法	2017年 4月13日
再表 2015-152217	基板処理装置、デバイス製造方法及び基板処理装置の調整方法	2017年 4月13日
再表 2015-152218	基板処理装置、デバイス製造方法及び基板処理方法	2017年 4月13日
再表 2015-152255	支持装置及び検査方法	2017年 4月13日
再表 2015-152297	検出装置、電子機器および製造方法	2017年 4月13日
再表 2015-152423	撮像素子、撮像装置および画像処理装置	2017年 4月13日
再表 2015-159983	成膜装置、基板処理装置、および、デバイス製造方法	2017年 4月13日
再表 2015-162921	構造化照明顕微鏡装置及び構造化照明観察方法	2017年 4月13日
再表 2015-163194	細胞外小胞体分析チップ、細胞外小胞体分析方法、細胞外小胞体分析装置	2017年 4月13日
特表 2017-510665	無水物誘導体モノマーと、その中に分散された無機ナノ粒子とを含む液状重合性組成物、及び光学物品を製造するためのその使用	2017年 4月13日
特表 2017-510860	色消し位相変調器および光学用具	2017年 4月13日
特開 2017-71837	還元装置、金属化合物の還元方法、およびマグネシウム金属の製造方法	2017年 4月13日
特開 2017-71972	点検支援方法および点検支援システム	2017年 4月13日
特開 2017-72526	偏光測定装置、偏光測定方法、検査装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法	2017年 4月13日
特開 2017-72527	干渉計、偏光測定装置、検査装置、露光装置、およびデバイス製造方法	2017年 4月13日

761 件中 526-540 件を表示

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2015-151461 2015-152217 2015-152218 2015-152255 2015-152297 2015-152423 2015-159983 2015-162921 2015-163194 2017-510665 2017-510860 2017-71837 2017-71972 2017-72526 2017-72527

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