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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第3481位 5件
(
2010年:第13109位 1件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第2899位 6件
(
2010年:第4188位 3件)
(ランキング更新日:2025年10月16日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4796806 | 試料室差動排気系を有するチャージ防止装置および試料室差動排気系を有するチャージ防止方法 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4796791 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線像生成方法 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4783629 | エッジ検出方法およびエッジ検出装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4700772 | 画像照合方法および画像照合プログラム | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4681291 | 荷電粒子線装置およびそのコンタミネーション除去方法 | 2011年 5月11日 | |
| 特許 4629207 | マスク検査装置 | 2011年 2月 9日 |
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4796806 4796791 4783629 4700772 4681291 4629207
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日常実務の疑問点に答える著作権(周辺領域の商標・不正競争防止法を含む)に関するQ&A~日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Q&A形式で平易に解説~
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