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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第3738位 5件
(2022年:第3931位 5件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第2423位 7件
(2022年:第4630位 3件)
(ランキング更新日:2025年4月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7394599
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リターディング電圧を用いた電子線検査装置 | 2023年12月 8日 | |
特許 7368576
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電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法 | 2023年10月24日 | |
特許 7313499
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走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法 | 2023年 7月24日 | |
特許 7304461
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電子検出装置 | 2023年 7月 6日 | |
特許 7294971
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走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法 | 2023年 6月20日 | |
特許 7280237
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サンプル傾斜自動補正装置およびサンプル傾斜自動補正方法 | 2023年 5月23日 | |
特許 7253647
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電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法 | 2023年 4月 6日 |
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7394599 7368576 7313499 7304461 7294971 7280237 7253647
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4月9日(水) -
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