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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第3931位 5件 (2021年:第3677位 5件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第4630位 3件 (2021年:第4240位 3件)
(ランキング更新日:2024年9月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2022-173523 | 電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法 | 2022年11月18日 | |
特開 2022-116263 | 電子検出装置 | 2022年 8月 9日 | |
特開 2022-71076 | 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法 | 2022年 5月13日 | |
特開 2022-71081 | 電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法 | 2022年 5月13日 | |
特開 2022-13226 | 画像検査装置および画像検査方法 | 2022年 1月18日 |
5 件中 1-5 件を表示
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2022-173523 2022-116263 2022-71076 2022-71081 2022-13226
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
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9月26日(木) -
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