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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第3054位 6件
(2017年:第2921位 7件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第1989位 8件
(2017年:第2791位 5件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2018-181790 | 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法 | 2018年11月15日 | |
特開 2018-142559 | 超高速電子検出器および該検出器を組み込んだ走査型電子ビーム検査装置 | 2018年 9月13日 | |
特開 2018-139174 | サンプル傾斜自動補正装置およびサンプル傾斜自動補正方法 | 2018年 9月 6日 | |
特開 2018-132514 | 長寸法測定方法 | 2018年 8月23日 | |
特開 2018-119981 | オートフォーカス装置 | 2018年 8月 2日 | |
特開 2018-92952 | 走査型電子顕微鏡および検査装置 | 2018年 6月14日 |
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2018-181790 2018-142559 2018-139174 2018-132514 2018-119981 2018-92952
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