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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第709位 48件
(2012年:第649位 49件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第2956位 6件
(2012年:第1691位 14件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-258054 | イオン化率計測方法および装置 | 2013年12月26日 | |
特開 2013-258053 | イオン化率計測方法および装置 | 2013年12月26日 | |
特開 2013-219198 | 薄膜製造方法 | 2013年10月24日 | |
特開 2013-215680 | 排水処理方法及び排水処理装置 | 2013年10月24日 | |
特開 2013-215670 | 膜分離活性汚泥装置 | 2013年10月24日 | |
特開 2013-214639 | コンデンサ装置 | 2013年10月17日 | |
特開 2013-207947 | 12パルス変換回路 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206652 | アンテナ装置、それを備えるプラズマ処理装置およびスパッタリング装置 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-191715 | コンデンサ装置 | 2013年 9月26日 | |
特開 2013-191827 | 蓄電デバイス | 2013年 9月26日 | 共同出願 |
特開 2013-179154 | 半導体薄膜およびその製造方法 | 2013年 9月 9日 | 共同出願 |
特開 2013-179375 | 乾式コンデンサ | 2013年 9月 9日 | |
特開 2013-174527 | ホウ素検出方法およびホウ素検出装置 | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-171965 | 電気化学素子 | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-169090 | 配電盤 | 2013年 8月29日 |
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2013-258054 2013-258053 2013-219198 2013-215680 2013-215670 2013-214639 2013-207947 2013-206652 2013-191715 2013-191827 2013-179154 2013-179375 2013-174527 2013-171965 2013-169090
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5月16日(金) - 東京 千代田区
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5月21日(水) - 東京 港区
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5月22日(木) - 東京 港区
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5月23日(金) - 東京 千代田区
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