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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第856位 35件 (2010年:第1392位 20件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第1552位 15件 (2010年:第1446位 14件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-249099 | 基材内表面のプラズマ計測方法及びそれに用いる電流計測器 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-244630 | 電気自動車の充電制御システム | 2011年12月 1日 | 共同出願 |
特開 2011-241917 | 真空シールおよび配管接続機構 | 2011年12月 1日 | 共同出願 |
特開 2011-243395 | 基材内表面のプラズマ計測方法とそれに用いる電流計測器 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-242368 | 絶縁診断装置 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-243391 | 基材内表面のプラズマ計測方法及びそれに用いる電流計測器 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-233719 | コンデンサ装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-233707 | 真空処理装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-226793 | シース型熱電対及びそれを用いた温度計測方法 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-217545 | コントロールセンタの引出しユニット固定装置 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-210714 | プラズマ電位計測方法、プラズマ電位計測装置及びプラズマ処理装置並びに記録媒体及びプログラム | 2011年10月20日 | |
特開 2011-210715 | イオン電流密度計測方法、イオン電流密度計測装置及びプラズマ処理装置並びに記録媒体及びプログラム | 2011年10月20日 | |
特開 2011-202744 | 真空シール構造、真空シール方法および真空装置 | 2011年10月13日 | |
特開 2011-192783 | コンデンサ装置 | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-188699 | 接点出力回路 | 2011年 9月22日 |
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2011-249099 2011-244630 2011-241917 2011-243395 2011-242368 2011-243391 2011-233719 2011-233707 2011-226793 2011-217545 2011-210714 2011-210715 2011-202744 2011-192783 2011-188699
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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